一种抗电磁故障注入攻击的电源端口布局优化方法

张培然, 郭龙韬, 刘强

集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (9) : 17-24.

PDF(6223 KB)
PDF(6223 KB)
集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (9) : 17-24. DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2024.0025
集成电路硬件安全研究专栏

一种抗电磁故障注入攻击的电源端口布局优化方法

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
作者信息 +

Power supply port placement optimization against EMFI

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
Author information +
文章历史 +

本文亮点

{{article.keyPoints_cn}}

HeighLight

{{article.keyPoints_en}}

摘要

{{article.zhaiyao_cn}}

Abstract

{{article.zhaiyao_en}}

关键词

Key words

本文二维码

本文编辑

引用本文

导出引用
{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2024, 24(9): 17-24 https://doi.org/10.20193/j.ices2097-4191.2024.0025
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2024, 24(9): 17-24 https://doi.org/10.20193/j.ices2097-4191.2024.0025
中图分类号:

参考文献

参考文献

{{article.reference}}

基金

版权

{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
PDF(6223 KB)

Accesses

Citation

Detail

段落导航
相关文章

/