电磁脉冲冲击下工业芯片LDMOS器件可靠性仿真方法研究

朱亚星, 赵东艳, 陈燕宁, 刘芳, 吴波, 王凯, 梁英宗, 郁文, 池泊明, 连亚军

集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (10) : 25-30.

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集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (10) : 25-30. DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2024.0030
研究论文

电磁脉冲冲击下工业芯片LDMOS器件可靠性仿真方法研究

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Research on reliability simulation method for industrial-chip-featured LDMOS devices under elctromagntic pulse impact

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