基于ATE的PMIC参数测试关键技术研究

温志贤, 杨红亮, 褚夫邈

集成电路与嵌入式系统 ›› 0

集成电路与嵌入式系统 ›› 0 DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2024.0063

基于ATE的PMIC参数测试关键技术研究

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Research on key technologies of PMIC parameter testing based on ATE

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