基于ATE的PMIC参数测试关键技术研究

温志贤, 杨红亮, 褚夫邈

集成电路与嵌入式系统 ›› 2025, Vol. 25 ›› Issue (4) : 72-78.

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集成电路与嵌入式系统 ›› 2025, Vol. 25 ›› Issue (4) : 72-78. DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2024.0063
研究论文

基于ATE的PMIC参数测试关键技术研究

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Research on key technologies of PMIC parameter testing based on ATE

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