功率MOSFET抗单粒子加固技术研究

陈宝忠, 宋坤, 王英民, 刘存生, 王小荷, 赵辉, 辛维平, 杨丽侠, 邢鸿雁, 王晨杰

集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (3) : 19-22.

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集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (3) : 19-22. DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2024.03.004
航天集成电路研究专栏

功率MOSFET抗单粒子加固技术研究

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Investigation on radiation-hardened technology of single event effect for power MOSFETs

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