电磁脉冲应力下MOSFET器件退化机制研究

宋斌斌, 王凯, 鹿祥宾, 单书珊, 罗宗兰, 栗磊, 赫嘉楠

集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (5) : 55-59.

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集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (5) : 55-59.
研究论文

电磁脉冲应力下MOSFET器件退化机制研究

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Study on degradation mechanism of MOSFET devices under electromagnetic pulse stress

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