集成电路固有失效机理的可靠性评价综述

章晓文, 周斌, 牛皓, 林晓玲

集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (7) : 1-11.

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集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (7) : 1-11.
集成电路可靠性研究专栏

集成电路固有失效机理的可靠性评价综述

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Review on the reliability evaluation of inherent failure mechanism of integrated circuits

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
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{{article.keyPoints_cn}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_cn}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2024, 24(7): 1-11
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2024, 24(7): 1-11
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{{article.reference}}

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{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
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