高密度混合电路封装技术发展趋势及可靠性评价方法研究

吉美宁, 常明超, 贾子健, 马保梁, 王锦, 董浩威, 范壮壮

集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (7) : 25-29.

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集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (7) : 25-29.
集成电路可靠性研究专栏

高密度混合电路封装技术发展趋势及可靠性评价方法研究

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Research on the development trend and reliability evaluation method of high-density hybrid circuit packaging technology

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
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{{article.keyPoints_cn}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_cn}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2024, 24(7): 25-29
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2024, 24(7): 25-29
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{{article.reference}}

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{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
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