基于通用测试平台的AD73360测试子卡设计
于吉刚, 侯伟盟, 谭加加
Design of AD73360 test sub-card based on universal test platform
YU Jigang, HOU Weimeng, TAN Jiajia
集成电路与嵌入式系统 . 2024, (5): 88 -93 .