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基于通用测试平台的AD73360测试子卡设计
于吉刚, 侯伟盟, 谭加加
Design of AD73360 test sub-card based on universal test platform
YU Jigang, HOU Weimeng, TAN Jiajia
集成电路与嵌入式系统 . 2024, (
5
): 88 -93 .