在片上系统调试验证过程中，常遇到与电源特性有关的问题。实际系统中的电源因存在内阻、走线阻抗、封装阻抗等原因，输出电压会随负载变化而波动。在片上系统的设计中，除了一些“为测试而设计的电路”（DFT Design For Test）外，通常还有一些为“为调试而设计的电路”（DFD Design for Debug）。例如，能够反应系统或芯片内部状态的寄存器、接口，或总线。示波器作为模拟电信号的主要观测工具，被广泛应用于电压随时间变化的波形观测；逻辑分析仪作为数字电信号的主要观测工具，用于观察数字电路信号的时序逻辑、总线上信号等。通过逻辑分析仪实时观测调试接口向外输出系统内部状态时，可以与示波器所表征系统性能的物理量相互关联，从而更好地定位问题、解决问题。例如，在低压大电流的片上系统中，通过降低供电电压能有效节省功耗。最低有效工作电压受到电源电压波动的影响，采用数模协同测试的方法能有效分析波动的成因、优化电源波动，提升系统性能。