基于通用测试平台的AD73360测试子卡设计

于吉刚, 侯伟盟, 谭加加

集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (5) : 88-93.

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集成电路与嵌入式系统 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (5) : 88-93. DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2024.05.012
研究论文

基于通用测试平台的AD73360测试子卡设计

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Design of AD73360 test sub-card based on universal test platform

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