集成电路与嵌入式系统

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基于失效物理的SiP可靠性评价标准研究

刘莹莹, 王志慧, 刘文宝, 付琬月, 刘沛

集成电路与嵌入式系统, 2025, 25(11): 54-61. DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2025.0055

时间 /h	高电平电压/V	电源电流/A	时间 /h	高电平电压/V	电源电流/A
0	0.235 3	0.235 8	336	0.298 3	0.241 8
24	0.228 1	0.253 8	360	0.325 8	0.421 0
48	0.236 8	0.235 8	384	0.378 1	0.271 8
72	0.278 1	0.198 2	408	0.214 5	0.328 7
96	0.253 4	0.234 8	432	0.236 8	0.413 2
120	0.257 8	0.236 8	456	0.204 0	0.354 7
144	0.183 7	0.352 4	480	0.354 7	0.397 8
168	0.289 3	0.235 8	504	0.367 8	0.258 7
192	0.312 8	0.198 6	528	0.412 3	0.423 5
216	0.338 7	0.199 0	552	0.453 2	0.325 7
240	0.378 1	0.289 7	576	0.381 7	0.453 8
264	0.298 3	0.321 2	600	0.358 7	0.521 4
288	0.358 7	0.312 5	624	0.421 2	0.327 4
312	0.387 6	0.398 2	648	0.398 0	0.521 4

表1 某型SiP产品特征参数(极差变换后)

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