集成电路与嵌入式系统

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电磁干扰环境MOS器件可靠性表征方法研究

朱亚星, 赵东艳, 陈燕宁, 刘芳, 吴波, 王凯, 郁文, 王柏清, 宋斌斌, 连亚军

集成电路与嵌入式系统, 2024, 24(8): 29-34. DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2024.0012

图3 MOS器件电磁干扰环境寿命预测流程图

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