集成电路与嵌入式系统

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一种面向SoC的高效DDR4调试与测试方法

蒋艳德, 马敬博, 张光达, 王冬升, 徐实, 裴秉玺, 王会权

集成电路与嵌入式系统, 2025, 25(11): 31-37. DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2025.0069

图3 基于GDB与OpenOCD的SoC芯片调试框架图

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