集成电路与嵌入式系统

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基于失效物理的SiP可靠性评价标准研究

刘莹莹, 王志慧, 刘文宝, 付琬月, 刘沛

集成电路与嵌入式系统, 2025, 25(11): 54-61. DOI: 10.20193/j.ices2097-4191.2025.0055

图8 预计寿命结果展示

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