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表1 某型SiP产品特征参数(极差变换后)
图10
可靠性评估结果
图9
失效预计结果列表
图8
预计寿命结果展示
图7
生成试验样本数据
图6
机理模型设置
图5
某型SiP产品的载荷响应分析
图4
某型SiP产品模型
图3
基于失效物理的SiP可靠性评价总体方案
图2
基于IEEE 1413标准的可靠性评价工作流程
图1
基于CALCE SARA的可靠性评价工作流程
表2 DDR操作系统级测试用例与实验结果
表1 DDR裸机级测试用例与实验结果
图5
结构化的DDR参数配置算法架构图
图4
DDR调试流程图
图3
基于GDB与OpenOCD的SoC芯片调试框架图
图2
SoC芯片调试框架图
图1
两通道DDR&四核SoC芯片架构图
图15
能效测试原理图
图14
延迟测试原理图
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