| 测试项目 | 测试方法描述 | 结果 |
|---|---|---|
| 定向读/写测试 | 针对特定地址进行固定数据模式的读/写验证 | 通过 |
| BIST读/写压力测试 | 通过内置自检模块进行高频率连续读/写操作,检测稳定性 | 通过 |
| 全地址读/写测试 | 遍历所有存储地址单元,验证地址译码完整性、并验证全地址读/写正确性 | 通过 |
| 变化数据pattern测试 | 采用交替01、全0、全1、随机数等多样化数据模式测试 | 通过 |
| 变化地址步长读/写测试 | 以不同地址步长(1/2/4/8等)进行跳跃式读/写,检测地址线干扰 | 通过 |
| 变化地址升降顺序测试 | 按升序(0→max)、降序(max→0)交替访问地址 | 通过 |
| 变化数据大小块测试 | 测试不同数据块大小(8 B/16 B/32 B等)的突发传输能力,以及部分写功能 | 通过 |
| 低功耗功能测试 | 在多种低功耗模式下验证DDR是否能正常进入和退出各种低功耗状态 | 通过 |
