专刊汇聚国内测试领域一线研究与工程实践成果，科研机构的理论创新与企业的攻关经验互为补充，客观反映我国集成电路测试技术阶段性发展水平，为科研及工程技术人员提供可查阅、可引用的中文技术文献，进一步丰富国内集成电路测试方向的专题研究成果。希望本专刊能够打通学术界与产业界的认知壁垒，为国内集成电路测试技术迭代、人才培养和技术标准研究提供参考，助力我国集成电路测试产业链协同创新与高质量发展。